Laboratorium Mikroskopii Elektronowej Skaningowej i Mikroanalizy

Pomieszczenie 0.28

Kierownik i pracownicy

Kierownik:

prof. dr hab. inż. Marek Michalik
Pokój: 3.13
Telefon: +48 604 147 828
e-mail: marek.michalik@uj.edu.pl

Pracownicy:

dr inż. Irena Brunarska
Pokój: 0.28, 3.23
Telefon: +48 12 664 43 12; +48 601 501 856
e-mail: irena.brunarska@uj.edu.pl
Publikacje naukowe: Irena Brunarska

mgr inż. Anna Łatkiewicz
Pokój: 0.28
Telefon: 12-664-4312
e-mail: anna.latkiewicz@uj.edu.pl

Wyposażenie

Mikroskop elektronowy skaningowy z zimna katodą Hitachi SU8600 z systemem mikroanalizy Bruker XFlash 7 oraz QUANTAX FlatQUAD

Mikroskop Hitachi SU8600 o ultra-wysokiej rozdzielczości z zimną emisją polową został zamontowany w listopadzie 2023 r. jako pierwszy tej klasy mikroskop elektronowy Hitachi w Polsce.

Możliwości badawcze

Obrazowanie przy powiększeniach do max 2000k razy różnorodnych próbek materiałów stałych np.: skały, minerały, skamieniałości, związki chemiczne, pyły, proszki, stopy, gleby, artefakty archeologiczne, ceramika, odpowiednio przygotowany materiał biologiczny, kompozyty, aerozole, tworzywa sztuczne i inne.
Możliwość szybkiej analizy chemicznej w mikroobszarze - analizy punktowe, liniowe, powierzchniowy rozkład koncentracji oraz ilościowe mapy rozkładu pierwiastków

Wszystkich zainteresowanych badaniami przy użyciu SEM - EDS zapraszamy do współpracy.

Charakterystyka i parametry techniczne:

Ultra wysoka rozdzielczość (0.6nm przy 15kV). Źródło zimnej emisji polowej o wysokiej jasności firmy Hitachi zapewnia obrazy o ultra wysokiej rozdzielczości nawet przy bardzo niskich napięciach (powiększenie X2000k przy napięciu 0.80kV),
Pięć detektorów sygnału elektronów: wtórnych (SE) i wstecznie rozproszonych (BSE) w tym inteligentny system detekcji do obrazowania BSE przy niskim napięciu,
Szybkie obrazowanie BSE: nowy kryształ typu Out-Column BSED (OCD) – detektor scyntylacyjny
Detektor sygnału transmisyjnego do obrazowania w jasnym i ciemnym polu (BF i DF STEM)
Detektor luminescencji katodowej (CLD)
Detektor EDS XFlash 7 umożliwia szybki pomiar pierwiastków od Be do Cf
Detektor promieniowania X QUANTAX FlatQuad o dużej szybkości zbierania sygnału, umożliwiający tworzenie map w czasie rzeczywistym, map ilościowych oraz map próbek o zróżnicowanej morfologii
Duża śluza załadowcza – możliwość umieszczenia w mikroskopie próbek o średnicy do φ150 mm lub kilku próbek na raz,
Opcja SEM MAP wykorzystująca zdjęcie makro próbek w komorze umożliwiająca łatwiejszą nawigację
Elastyczny interfejs – konfiguracja dwóch monitorów pozwala na wyświetlanie i zapisywanie 6 sygnałów jednocześnie, aby pozyskać więcej informacji w krótszym czasie. Na jednym monitorze można jednocześnie wyświetlać 1, 2 lub 4 sygnały, w tym widok całej komory lub SEM MAP.
Oprogramowanie do analizy obrazu Hitachi Map 3D – rekonstrukcja 3D tekstur, analiza cząstek, statystyczna analiza i klasyfikacja cząstek, pomiary wielkości i orientacji włókien, analiza map EDS
Program Esprit Features umożliwiający statystyczną analizę cząstek wraz z klasyfikacją opartą na składzie chemicznym
Opcja ZigZag umożliwiająca automatyczną akwizycje serii obrazów o wysokiej rozdzielczości i łączenie ich w jeden obraz

Przykłady zastosowań

Zobacz galerię zdjęć

Mikroskop HITACHI S-4700 z systemem mikroanalizy Thermo Scientific

Możliwości badawcze

Badania przy dużych powiększeniach różnorodnych materiałów np.: próbki skał i minerałów, pyły, stopy, gleby, artefakty archeologiczne, ceramika, kompozyty, tworzywa sztuczne i inne.
Możliwość analizy chemicznej w bardzo niewielkim obszarze próbki (analiza punktowa, liniowa i powierzchniowy rozkład koncentracji)

Wszystkich zainteresowanych badaniami przy użyciu SEM - EDS zapraszamy do współpracy.

Informacje techniczne mikroskopu skaningowego z emisją polową z zimna katodą Hitachi S-4700 i systemu EDS Thermo Scientific

Łatwość uzyskiwania dużych powiększeń (do 500 000 x).
Wysoka rozdzielczość przy niskich napięciach (gwarantowane 2.1 nm przy napięciu 1 kV).
Rozdzielczość 1.5 nm jest możliwa do uzyskania przy odległości roboczej 12 mm i przy napięciu 15 kV. Odległość 12 mm pozwala na łatwe wykonywanie wielu operacji (wymiana próbek, nachylanie próbek do 45o) i analizy składu chemicznego (wysoki kąt odbioru promieniowania rentgenowskiego - 30o).
Możliwość pracy (obserwacje i analizy EDS) przy niskich napięciach przyśpieszających co pozwala na zredukowanie głębokości penetracji wiązki i uzyskanie wysokiej rozdzielczości przestrzennej analiz oraz analizę bardzo małych obiektów (np. o średnicy rzędu 0.5 - 1 um).
Uzyskiwanie obrazów z wykorzystaniem zintegrowanego detektora elektronów wtórnych i wstecznie rozproszonych (dwa detektory i filtr energetyczny ExB). Obrazy uzyskane z sygnału każdego z nich lub mieszanego z obu pozwalają na uzyskanie optymalnych obrazów dla różnych próbek i redukcję nadmiernego kontrastu na krawędzi obiektów.
Mikroskop wyposażony jest w detektor elektronów wstecznie rozproszonych (BSE) typu YAG (praca także w "trybie telewizyjnym"). Możliwe jest równoczesne korzystanie z detektora YAG i detektora EDS.
System EDS posiada bogate oprogramowanie pozwalające na łatwą i wygodną pracę (punktowa analiza składu chemicznego próbki, liniowy lub powierzchniowy rozkład pierwiastków). Detektor charakteryzuje się dużą powierzchnią kryształu (30 mm2) i wysoką rozdzielczością (134 eV).

Zobacz galerię zdjęć(1)