W pracowni trwają prace montażowe pierwszego w Polsce skaningowego mikroskopu elektronowego HITACHI SU8600

Kierownik i pracownicy

Kierownik:

prof. dr hab. inż. Marek Michalik
Pokój: 3.13
Telefon: +48 604 147 828
e-mail: marek.michalik@uj.edu.pl

Pracownik techniczny:

dr inż. Irena Brunarska
Pokój: 0.28
Telefon: 12 664 43 10
e-mail: irena.brunarska@uj.edu.pl

 

Informacje ogólne

Pomieszczenie 0.28
Wyposażenie: Mikroskop HITACHI S-4700 z systemem mikroanalizy NORAN Vantage

Możliwości badawcze

1. Badania przy dużych powiększeniach różnorodnych materiałów np.: próbki skał i minerałów, pyły, stopy, gleby, artefakty archeologiczne, ceramika, kompozyty, tworzywa sztuczne i inne.
2. Możliwość analizy chemicznej w bardzo niewielkim obszarze próbki (analiza punktowa, liniowa i powierzchniowy rozkład koncentracji)
3. Wszystkich zainteresowanych badaniami przy użyciu SEM - EDS zapraszamy do współpracy.
4. W Instytucie Nauk Geologicznych UJ istnieje także możliwość określenia składu mineralnego badanej próbki z zastosowaniem rentgenowskiej analizy dyfrakcyjnej (dyfraktometr Philips X'Pert APD). 

Instytut dysponuje również spektrometrem fourierowskim do badań w podczerwieni (BioRad FTS 135).

Możliwa jest też do wykonania dokumentacja badanych materiałów przy użyciu mikroskopów optycznych (światło przechodzące, światło odbite).

Informacje techniczne mikroskopu skaningowego z emisją polową z zimna katodą Hitachi S-4700 s systemu EDS Noran Vantage

1. Łatwość uzyskiwania dużych powiększeń (do 500 000 x).
2. Wysoka rozdzielczość przy niskich napięciach (gwarantowane 2.1 nm przy napięciu 1 kV).
3. Rozdzielczość 1.5 nm jest możliwa do uzyskania przy odległości roboczej 12 mm i przy napięciu 15 kV. Odległość 12 mm pozwala na łatwe wykonywanie wielu operacji (wymiana próbek, nachylanie próbek do 45o) i analizy składu chemicznego (wysoki kąt odbioru promieniowania rentgenowskiego - 30o).
4. Możliwość pracy (obserwacje i analizy EDS) przy niskich napięciach przyśpieszających co pozwala na zredukowanie głębokości penetracji wiązki i uzyskanie wysokiej rozdzielczości przestrzennej analiz oraz analizę bardzo małych obiektów (np. o średnicy rzędu 0.5 - 1 um).
5. Uzyskiwanie obrazów z wykorzystaniem zintegrowanego detektora elektronów wtórnych i wstecznie rozproszonych (dwa detektory i filtr energetyczny ExB). Obrazy uzyskane z sygnału każdego z nich lub mieszanego z obu pozwalają na uzyskanie optymalnych obrazów dla różnych próbek i redukcję nadmiernego kontrastu na krawędzi obiektów.
6. Mikroskop wyposażony jest w detektor elektronów wstecznie rozproszonych (BSE) typu YAG (praca także w "trybie telewizyjnym"). Możliwe jest równoczesne korzystanie z detektora YAG i detektora EDS.
7. System EDS posiada bogate oprogramowanie pozwalające na łatwą i wygodną pracę (punktowa analiza składu chemicznego próbki, liniowy lub powierzchniowy rozkład pierwiastków). Detektor charakteryzuje się dużą powierzchnią kryształu (30 mm2) i wysoką rozdzielczością (134 eV).

1. Mikroskop posiada cyfrowy zapis obrazu (wyłącznie). Obrazy mogą być zapisywane w formatach JPEG, TIFF lub BMP z różną rozdzielczością (trzy możliwości do wyboru).
2. Wyposażenie mikroskopu i systemu mikroanalizy w dwie drukarki umożliwia szybkie sporządzenie dokumentacji badań.
3. Pracownia wyposażona jest w napylarkę węglową (turbomolekularną) z pomiarem grubości warstwy węgla.